陶瓷晶振,插件谐振器,CRB1.2M晶振,中频压电陶瓷晶振千赫系列产品,经过公司长期开发研究,现在大部分频点均已量产,并且长期备有现货,频点多元化,多种款型,型号,体积,封装,引进插件以及贴片模式供客户选用.所有生产的陶瓷晶振均经过严格宽温度范围内和长期老化试验,确保客户在使用过程中保持稳定. 该中频陶瓷谐振器系列由固定,调谐,固态器件组成,该陶瓷振荡子尺寸小,重量轻,具有卓越的抗振性能.为了该陶瓷振荡子系列产品在电路中使用稳定，
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陶瓷谐振器 型 号
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频率精度
(at 25°C)
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谐振阻抗
(Ω)
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温度稳定性
(-20°C~+80°C)(%)
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老化率(10年)(%)
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负载电容(pF)
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C1
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C2
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ZTB82 ~ ZTB189 *
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±2kHz
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≤20
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±0.3
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±0.3
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/
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/
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ZTB190D ~ ZTB249D
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±1kHz
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≤20
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±0.3
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±0.3
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330
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470
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ZTB250D ~ ZTB374D
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±1kHz
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≤20
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±0.3
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±0.3
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220
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470
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ZTB375P ~ ZTB429P
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±2kHz
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≤20
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±0.3
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±0.3
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120
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470
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ZTB430E ~ ZTB509E
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±2kHz
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≤20
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±0.3
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±0.3
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100
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100
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ZTB510P ~ ZTB699P
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±2kHz
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≤30
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±0.3
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±0.3
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100
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100
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ZTB700J ~ ZTB999J
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±0.5%
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≤70
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±0.3
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±0.3
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100
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100
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ZTB1000J ~ ZTB1250J
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±0.5%
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≤100
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±0.3
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±0.3
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100
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100
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可焊性试验条件将引线浸入230℃±5℃的焊锡槽中，浸入深度至引线根部2mm处，时间5S±1S。要求 焊锡良好覆盖的面积应不少于浸锡面积的95%。
高温试验，试验条件温度85℃±2℃，时间96小时，在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。要求电性能满足2.1∽2.4的规定。
低温试验，试验条件温度-25℃±2℃，时间96小时，在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。
陶瓷晶振要求电性能满足2.1∽2.4的规定。
恒定湿热，试验条件 温度40℃±2℃，相对温度90%∽95%，时间96小时，在室温条件下恢复24小时后进行测量。
陶瓷晶振要求电性能满足2.1∽2.4的规定。
温度变化试验，试验条件试验温度-20℃.+80℃，转换时间2-3min，循环次数5次，在室温条件下恢复24小时后进行测量。要求电性能满足2.1∽2.4的规定。陶瓷晶振,插件谐振器,CRB1.2M晶振
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