陶瓷晶振,陶瓷谐振器,ZTT3.7×3.1晶振，该产品的振荡电路不需外部负载电容器,对应不同IC,有不同的内制电容 (含有内置负载电容的陶瓷晶振产品一定要产品本身是三个脚ZTT陶瓷晶振系列).该系列产品可在很宽温度范围内保持稳定.该陶瓷晶振尺寸小,重量轻,并具有卓越的抗振性能.与CR,LC电路不同,陶瓷振荡子利用的是机械谐振而不是像压电石英晶体一样电谐振的方式起振,利用它们可实现免调整振荡器电路的设计,该系列价格适中且货源稳定,多数常规频点都已大批量生产.
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陶瓷晶振产品型 号
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频率范围
(MHz)
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频率精度
(%)
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温度稳定性
(-20°C ~ +80°C) (%)
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老化率(10年)
(%)
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ZTACC*MG / ZTTCC*MG
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1.79 ~ 8.00
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± 0.5
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± 0.3
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± 0.3
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ZTACR*MG / ZTTCR*MG
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4.00 ~ 8.00
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± 0.5
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± 0.3
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± 0.3
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ZTACS*MT / ZTTCS*MT
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6.00 ~ 13.00
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± 0.5
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± 0.4
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± 0.3
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ZTACV*MT / ZTTCV*MT
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8.00 ~ 13.00
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± 0.5
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± 0.4
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± 0.3
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ZTACE*MG / ZTTCE*MG
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8.00 ~ 13.00
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± 0.5
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± 0.4
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± 0.3
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ZTACS*MX / ZTTCS*MX
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13.01 ~ 50.00
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± 0.5
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± 0.3
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± 0.3
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ZTACV*MX / ZTTCV*MX
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16.00 ~ 50.00
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± 0.5
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± 0.3
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± 0.3
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ZTACW*MX / ZTTCW*MX
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20.00 ~ 45.00
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± 0.5
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± 0.3
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± 0.3
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测试
3-1 测试条件
参考温度应为25℃±2℃除非结果有不正确时，测量温度范围应在5℃~35℃中进行。
3-2 电路和仪器测试
振荡频率应由图1所示之标准测试电路测试，谐振阻抗应由HP8751A网络分析仪测试
四、湿度、温度测试
4-1 湿度试验
将谐振器放于40℃±2℃，相对温度为90~95%的潮湿试验箱中96个小时，然后将谐振器放于室温1小时后，再进行测试，其技术指标应符合表1中的规格。
4-2 高温试验
将谐振器放于85℃±5℃的烘箱中96个小时，然后将谐振器放于室温1小时后，再进行测试，其技术标准应符合表1中的规格。
4-3 低温试验
将谐振器放于-30℃±5℃的冻箱中96个小时，然后将谐振器放于室温1小时后，再进行测试，其技术标准应符合表1中的规格。
4-4 温度循环
将谐振器放于低温为–55℃±5℃中的30分钟，取出后再置于+85℃±5℃的烘箱中30分钟，如此循环5次后存放15分钟于室温。然后将谐振器放于室温2小时后，再进行测试，其技术指标应符合表1的规格，陶瓷晶振,陶瓷谐振器,ZTT3.7×3.1晶振
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